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一种TCAM存储器的内建自测试方法 

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申请/专利权人:南京蓝洋智能科技有限公司

摘要:本发明公开了一种TCAM存储器的内建自测试方法,所述方法先通过一种简化的March算法检测固定故障,然后再使用自定义的加强型棋盘格方法和对角线方法测试相邻单元敏感耦合故障、转换故障以及地址译码故障。此算法通过Verilog硬件描述语言实现,相对于一般的常规TCAM测试,它在节省芯片面积的同时,提高了测试覆盖率,降低了产品缺陷率DPPM。

主权项:1.一种TCAM存储器的内建自测试方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:步骤一、通过简化的March算法完成固定故障检测;步骤二、使用自定义棋盘格测试方法检测耦合故障;步骤三、利用对角线测试方法补充耦合故障、跳变故障以及地址译码故障的检测。

全文数据:

权利要求:

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