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申请/专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要：本发明提供一种双黑体高精度红外相对光谱响应度测试装置及其测试方法，其中的测试装置包括：双黑体系统、中继镜头、红外单色仪、汇聚镜头、镀金积分球、双探测器系统和控制处理系统；黑体输出的光束经过中继镜头入射到红外单色仪内，控制红外单色仪输出单色光，再经汇聚镜头，入射到镀金积分球内，在积分球出光口形成均匀的光斑，分别被双探测器系统中的标准探测器和待测探测器接受，再经控制处理系统转换为数字信号。在同一波长位置两个探测器分别获得高温黑体和低温黑体的两种辐射信号。经过数据处理获得待测探测器的相对光谱响应度。本发明有效减少单高温黑体对测试结果的影响，解决了因测试系统温度变化导致测试结果偏差较大的问题。
主权项：1.一种双黑体高精度红外相对光谱响应度测试装置，其特征在于，包括：高温腔型黑体、低温腔型黑体、中继镜头、红外单色仪、汇聚镜头、镀金积分球、标准探测器、待测探测器和控制处理系统；所述高温腔型黑体和所述低温腔型黑体分别保持高温和低温不变，且温度差保持不变；所述高温腔型黑体辐射出光束通过所述中继镜头后进入所述红外单色仪，所述红外单色仪将所述光束输出为波长为λi的红外单色光，所述红外单色光通过所述汇聚镜头后进入所述镀金积分球中，且在所述镀金积分球的出光口处形成均匀的红外单色光斑，分别用标准探测器和待测探测器进行测试，获得高温腔型黑体在所述标准探测器和待测探测器中的输出信号，再经所述控制处理系统转换为数字信号；保持红外单色仪波长λi不变，将所述高温腔型黑体切换为所述低温腔型黑体，分别获得低温腔型黑体在所述标准探测器和待测探测器中的输出信号，再经控制处理系统转换为数字信号；至此获得在波长λi下的四路数字信号，通过变换所述红外单色仪的波长λi分别获得在不同波长位置处的四路数字信号，经过所述控制处理系统的数据处理，获得待测探测器的相对光谱响应度。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 双黑体高精度红外相对光谱响应度测试装置及其测试方法
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