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一种支持多波束多通道TR芯片测试系统 

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申请/专利权人:重庆西南集成电路设计有限责任公司

摘要:本申请公开了一种支持多波束多通道TR芯片测试系统,包括:多个测试模块,每一个测试模块包括信号源、选择开关、定向耦合器、放大器、衰减器,多个测试模块的多个信号源为被测器件提供多个相位相参、自动分时扫描的信号输入,每一个所述定向耦合器连接一接收机,选择开关用于控制所述信号源、定向耦合器、放大器、衰减器的切入与切出,以控制测试系统进行发射测试和接收测试。本发明具有多个测试模块,多个测试模块的信号源相位相参、自动分时扫描,可以实现多波束多通道幅度相位一致性测试;同时,通过多个选择开关的切换可以实现一次连接进行矢量S参数、增益压缩与噪声系数全部测试,实现多波束多通道的信号测量、波束与波束之间隔离测量、通道与通道之间测量。

主权项:1.一种支持多波束多通道TR芯片测试系统,其特征在于,所述支持多波束多通道TR芯片测试系统包括:多个测试模块,每一个测试模块包括一信号源、至少一个选择开关、至少一个定向耦合器、至少一个放大器、至少一个衰减器,多个测试模块的多个信号源为被测器件提供多个相位相参、自动分时扫描的信号输入,每一个所述定向耦合器连接一接收机,所述至少一个选择开关用于控制所述信号源、至少一个定向耦合器、至少一个放大器、至少一个衰减器的切入与切出,以控制测试系统进行发射测试和接收测试。

全文数据:

权利要求:

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