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用于处理图像的方法 

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申请/专利权人:施耐德电器工业公司

摘要:本发明涉及一种用于处理原始图像的方法,该原始图像由与成像器1的有源热辐射计Bpix_i,j相关联的原始测量Spi,j表征,所述有源热辐射计以矩阵阵列布置,成像器1处于环境温度Tamb下并且还包括盲热辐射计Bb_k,该方法由配备有存储器的计算机4执行,该方法包括以下步骤:a根据参考温度Tr下的有源热辐射计和盲热辐射计各自的电阻RTri,j和RTrk分别计算它们在温度Tamb下的电阻RTambi,j和RTambk的步骤,所述电阻存储在存储器中;b根据步骤a中计算的电阻和根据原始测量Spi,j来确定由每个有源热辐射计Bpix_i,j实际测量的温度Tsci,j的步骤。

主权项:1.一种用于处理原始图像的方法,该原始图像由与成像器1的有源热辐射计Bpix_i,j相关联的原始测量Spi,j表征,所述有源热辐射计以n行Li和m列Cj的矩阵阵列布置,成像器1处于环境温度Tamb下并且还包括盲热辐射计Bb_k,每个盲热辐射计Bb_k用于特定于所述盲热辐射计的至少一列热辐射计的有源热辐射计Bpix_i,j的差动测量,每个盲热辐射计Bb_k有利地与单列Cj有源热辐射计Bpix_i,j相关联,所述方法由配备有存储器的计算机4执行,所述方法包括以下步骤:a根据参考温度Tr下有源热辐射计和盲热辐射计各自的电阻RTri,j和RTrk分别计算它们在环境温度Tamb下的电阻RTambi,j和RTambk的步骤,所述电阻存储在存储器中;b根据步骤a中计算的电阻和根据原始测量Spi,j确定由每个有源热辐射计Bpix_i,j实际测量的温度Tsci,j的步骤,其中,由有源热辐射计Bpix_i,j实际测量的温度Tsci,j遵循以下关系: 其中:-RespTamb,i,j是热辐射计的响应度;-S0,Tambi,j是实际测量温度等于环境温度时由有源热辐射计Bpix_i,j输出的值。

全文数据:

权利要求:

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