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一种GIP检测电路 

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申请/专利权人:福建华佳彩有限公司

摘要:一种GIP检测电路,包括GIP检测模块,所述GIP检测模块的控制端与当前级驱动信号Gn连接,控制端与薄膜晶体管T8的栅极连接,薄膜晶体管T8的漏极与GIP检测控制模块的输出端连接,所述GIP检测控制模块的输出端与测试信号线连接;GIP检测控制模块的输出端还通过薄膜晶体管T9与片上低电压连接,T9通过测试信号线控制开关。通过本技术方案能够检测每一级信号输出。提高GIP检测的效率和精度。

主权项:1.一种GIP检测电路,其特征在于,包括GIP检测模块,所述GIP检测模块的控制端与当前级驱动信号Gn连接,控制端与薄膜晶体管T8的栅极连接,薄膜晶体管T8的漏极与GIP检测控制模块的输出端连接,所述GIP检测控制模块的输出端与测试信号线连接;GIP检测控制模块的输出端还通过薄膜晶体管T9与片上低电压连接,T9通过测试信号线控制开关;所述的GIP检测电路具体包括薄膜晶体管T1、T2、T3、T4、T5、T6、T7、T8、T9,电容C1、C2;所述T1的漏极与片上高电压连接,栅极与前四级扫描信号连接,源极与T7的源极连接;所述T7的源极还与T2的栅极、T3的源极、C2的一端和T4的栅极连接;所述T2的漏极接片上低电压,源极与T3的栅极、C1的一端、T6的栅极连接;所述T3的漏极接片上低电压;所述C2的另一端与T5的源极、T4的漏极连接;所述T4的源极接第一时钟信号;所述T5的栅极接第五时钟信号,漏极接片上低电压;所述C1的另一端接第一时钟信号;所述T6的源极与当前级扫描信号和T8的栅极连接;所述T8的漏极与T9的源极连接,T9的漏极接片上低电压;所述T8的漏极还与测试信号连接,所述T9的栅极与控制信号连接;所述T8的源极与片上高电压或当前级扫描信号连接。

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