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申请/专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所

摘要：本发明提供一种闪烁体余辉精确测量装置及方法，解决现有余辉测试装置存在余辉时间测量精度较低的问题。装置包括X射线屏蔽壳体、X射线发生机构、测试屏蔽壳体、探测器、时间处理单元；X射线发生机构包括光源、真空壳体、输入窗、光电阴极、聚焦极和阳极靶及光源控制电路，光源控制电路控制光源通断及向时间处理单元发送起始信号；光源外侧设有隔离密封套筒；真空壳体侧壁和X射线屏蔽壳体之间设X射线输出窗口；X射线屏蔽壳体、隔离密封套筒、真空壳体、X射线输出窗口形成腔体内充有绝缘散热介质；探测器设在测试屏蔽壳体内，用于向时间处理单元发送终止信号和获得待测闪烁体余辉的强度信息，时间处理单元用于获得待测闪烁体的余辉时间信息。

主权项：1.一种闪烁体余辉精确测量装置，其特征在于：包括X射线屏蔽壳体10、X射线发生机构、测试屏蔽壳体20、探测器15、时间处理单元22和计算机19；所述X射线发生机构包括设置在X射线屏蔽壳体10内的光源2、真空壳体7、输入窗4、光电阴极5、聚焦极6和阳极靶8以及设置在X射线屏蔽壳体10外的光源控制电路1，光源控制电路1用于控制光源2通断以及向时间处理单元22发送起始信号；所述真空壳体7为一端开口的筒状结构，输入窗4设置在真空壳体7的开口处，形成真空腔体；所述输入窗4、光电阴极5、聚焦极6、阳极靶8沿光源2的出射方向依次设置，且光电阴极5设置在输入窗4的内表面，阳极靶8的末端伸出真空壳体7，阳极靶8的靶面倾角小于45°；所述光源2的外侧设有隔离密封套筒3，隔离密封套筒3的一端与X射线屏蔽壳体10内壁连接，另一端与输入窗4连接；所述真空壳体7侧壁和X射线屏蔽壳体10之间设置有供X射线穿过的X射线输出窗口11；所述X射线屏蔽壳体10内壁、隔离密封套筒3侧壁、真空壳体7外壁、X射线输出窗口11侧壁之间形成的腔体内充有绝缘散热介质；所述X射线屏蔽壳体10和测试屏蔽壳体20之间设有用于屏蔽杂散光及防止X射线泄露的准直屏蔽件12；所述探测器15设置在测试屏蔽壳体20内，用于获取测试屏蔽壳体20内待测闪烁体14经阳极靶8出射的X射线照射后发出的荧光信息；所述探测器15用于向时间处理单元22发送终止信号，时间处理单元22用于对起始信号和终止信号进行处理，获得待测闪烁体14的余辉时间信息；所述探测器15用于处理到达探测器15的光子位置信息，获得待测闪烁体14余辉的强度信息；所述计算机19与时间处理单元22的输出和探测器15的输出连接。

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