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一种WLCSP芯片封装测试浮板 

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申请/专利权人:东莞市海洛电子科技有限公司

摘要:本实用新型公开了一种WLCSP芯片封装测试浮板,包括基座,所述基座两侧面均开设有握持凹槽,所述握持凹槽上面延伸出基座;所述基座正面开设有截面为矩形的导向槽,所述导向槽槽底开设有能够容纳WLCSP芯片的针模,所述导向槽槽口至靠近针模处而逐渐减小,所述导向槽四个角位置处开设有下针孔也为圆形,所述针模内开设有若干个开孔,开孔为圆孔,所述基座一侧活动有缩爪针。优点:提高自动化加工WLCSP芯片的生产良率,减少芯片接触造成的物理损伤,降低生产成本。

主权项:1.一种WLCSP芯片封装测试浮板,包括基座1,其特征在于:所述基座1两侧面均开设有握持凹槽2,所述握持凹槽2上面延伸出基座1;所述基座1正面开设有导向槽3,所述导向槽3槽底开设有能够容纳WLCSP芯片的针模4,所述导向槽3槽口至靠近针模4处而逐渐减小,所述导向槽3四个角位置处开设有下针孔5,所述针模4内开设有若干个开孔6,所述基座1一侧活动有缩爪针7;所述基座1正面开设有与导向槽3、针模4连通的两个矩形凹槽8,所述矩形凹槽8相对设置。

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