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申请/专利权人：厦门理工学院
摘要：本发明涉及一种带气隙高频电感绕组损耗测量方法，包括：选取一个与待测电感的磁芯尺寸完全相同但未开气隙的磁芯，在待测电感的磁芯气隙对应于选取磁芯的位置处绕制与待测电感磁芯气隙高度相同的气隙等效绕组，并将气隙等效绕组短路，同时在选取磁芯上依照与待测电感相同的方式绕制电感绕组；测量电感绕组两个端子的输入电阻；将电感绕组的材料替换后作为辅助绕组；测量辅助绕组两个端子的输入电阻；采用空心电感，单独测量辅助绕组在设定频率下的交流电阻；计算电感绕组的电阻，并将其作为待测电感的绕组电阻。本发明克服了现有电感绕组损耗测量存在误差大、适用频率范围窄、提取过程复杂的缺点。
主权项：1.一种带气隙高频电感绕组损耗测量方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：选取一个与待测电感的磁芯尺寸完全相同但未开气隙的磁芯，在待测电感的磁芯气隙对应于选取磁芯的位置处绕制与待测电感磁芯气隙高度相同的气隙等效绕组，并将气隙等效绕组短路，同时在选取磁芯上依照与待测电感相同的方式绕制电感绕组；S2：测量电感绕组两个端子的输入电阻Rtest1；S3：将电感绕组的材料替换后作为辅助绕组；S4：测量辅助绕组两个端子的输入电阻Rtest2；S5：采用空心电感，单独测量辅助绕组在设定频率下的交流电阻Ra；S6：通过下式计算电感绕组的电阻，并将其作为待测电感的绕组电阻； 其中，N1表示电感绕组的匝数、N3表示辅助绕组的匝数。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 厦门理工学院 一种带气隙高频电感绕组损耗测量方法
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