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申请/专利权人：南京金理念信息技术有限公司

摘要：本发明提供了一种集成电路的成品测试方法和存储介质，包括，预先获取集成电路的仿真电路，并确定仿真电路在运行时的运行参数和仿真引脚数据；将集成电路的成品测试板与调试设备连接，并设定所述调试设备采用所述运行参数进行电路测试，获取测试引脚数据；获取所述成品测试板上元器件信息，计算所述成品测试板的电性参数，并基于所述电性参数确定运行误差；根据将所述运行误差带入所述仿真引脚参数后，与所述测试引脚参数进行匹配运算，确定集成电路的合格率。

主权项：1.一种集成电路的成品测试方法，其特征在于，包括：预先获取集成电路的仿真电路，并确定仿真电路在运行时的运行参数和仿真引脚参数；将集成电路的成品测试板与调试设备连接，并设定所述调试设备采用所述运行参数进行电路测试，获取测试引脚参数；获取所述成品测试板上元器件信息，计算所述成品测试板的电性参数，并基于所述电性参数确定运行误差；根据将所述运行误差带入所述仿真引脚参数后，与所述测试引脚参数进行匹配运算，确定集成电路的合格率；其中，所述获取所述成品测试板上元器件信息，计算所述成品测试板的电性参数，包括：根据所述元器件信息，构建基于GIS网格的电性参数统计网络；其中，所述元器件信息在所述GIS网格上均存在唯一标识；将所述成品测试板上元器件的依次通过红外探头进行接触；收集所述红外探头的在不同电压下的红外信息；根据所述红外信息建立所述成品测试板上不同元器件的曲线模型；根据所述曲线模型，确定所述成品测试板上不同元器件的波动信息；根据所述波动信息，计算波动强度，并将所述波动强度作为电性参数；其中，所述基于所述电性参数确定运行误差，包括：获取所述电性参数，计算所述电性参数下成品测试板的信噪比，在确定所述信噪比小于预设信噪比时，对所述电性参数下的成品测试板进行降噪处理，根据所述降噪处理后的电性参数控制所述成品测试板进行相应的显示；所述计算所述电性参数下的成品测试板，包括：计算所述电性参数下的成品测试板的幅度A： 其中，E1为电性参数下的成品测试板中有效信号的功率；E2为电性参数下的成品测试板中噪声的功率；M为电性参数下的成品测试板信号节点的数量；uj为第j个信号节点处的能量；为信号节点的平均能量；根据所述电性参数下的成品测试板的幅度A，计算所述电性参数下的成品测试板的运行误差T： 其中，ε为各个信号节点中噪声的方差；t为电性参数下的成品测试板的传输时长；χ1为电性参数下的成品测试板中有效信号的振动频率；χ2为电性参数下的成品测试板中噪声的振动频率；其中，所述根据将所述运行误差带入所述仿真引脚参数后，与所述测试引脚参数进行匹配运算，确定集成电路的合格率，包括：获取所述仿真引脚参数，并根据所述运行误差，对所述仿真引脚参数进行调节，确定调节系数；根据所述调节系数，确定所述仿真引脚参数调节后的调节参数；将所述调节参数通过马氏距离和相关算法进行计算，获取距离值和相关值；依次获取所述成品测试板上每个元器件的距离值和相关值，并计算距离值的方差和相关值方差的比值，确定百分比；将所述百分比作为合格率；其中，所述确定集成电路的合格率，还包括：根据如下公式计算距离值和相关值中的数据可信值： 其中，η表示所述距离值和相关值的可信值，且取值范围为[0,1]；δ表示可信因子；α表示所述距离值；γ表示距离值对应的元器件的标准参数；μ表示所述相关值；ω表示所述相关值对应的元器件的标准参数；β表示所述距离值和相关值的权重系数；ρ表示所述距离值和相关值的特征参数；θ表示所述距离值和相关值的平均值；σ表示所述距离值和相关值的期望和；根据如下公式计算对确定数据可信值的准确率： 其中，表示所述数据可信值的准确率，且取值范围为[0.1]；τ表示所述数据可信值的比重；ζ表示所述数据可信值的数据总量；υ表示所述数据可信值的总量；λ表示数据可信值的期望值；η表示数据可信值的全局比值，且取值范围为[0,1]；将所述数据可信值的准确率带入每个元器件的测试引脚参数，确定每个引脚合格率；根据每个引脚的合格率，确定集成电路的合格率。

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