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一种测试针卡以及测试机 

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申请/专利权人:普冉半导体(上海)股份有限公司

摘要:本实用新型公开了一种测试针卡,包括:至少一个焊盘、至少一个探针、印刷电路板;所述焊盘安装在所述印刷电路板上;所述探针通过焊盘与所述印刷电路板连接,且所述探针外侧包裹同轴线;所述印刷电路板上设置有印刷电路板开窗区域,且所述印刷电路板开窗区域尺寸为第一预设值,使所述印刷电路板上焊盘区域到出针区域的所述探针针长缩短。通过本实用新型测试针卡能够大大提高信号测试频率,并降低高速信号之间的电磁干扰。

主权项:1.一种测试针卡,其特征在于,包括:至少一个焊盘、至少一个探针、印刷电路板;所述焊盘安装在所述印刷电路板上;所述探针通过焊盘与所述印刷电路板连接,且所述探针外侧包裹同轴线;所述印刷电路板上设置有印刷电路板开窗区域,且所述印刷电路板开窗区域尺寸为第一预设值,使所述印刷电路板上焊盘区域到出针区域的所述探针针长缩短。

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