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一种测试电路及测试方法 

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申请/专利权人:成都态坦测试科技有限公司

摘要:本发明公开一种测试电路及测试方法,所述测试电路包括:电源接入模块、电源模块、开关模块、功耗测试模块和主控模块;主控模块用于控制开关模块的开合状态,以控制电源接入模块是否接入所在回路;电源接入模块用于接入输入电源;电源模块用于将输入电源进行电源降压以为固态硬盘进行供电;主控模块还用于根据上位机传输的检测指令,控制功耗测试模块对固态硬盘的功耗进行计算;主控模块还用于控制电源模块调节输入电源的参数。实现了功耗测试、上下电控制和电源控制等测试,并且能够满足不同供电方式下的功能测试。

主权项:1.一种测试电路,其特征在于,所述测试电路包括:电源接入模块、电源模块、开关模块、功耗测试模块和主控模块;所述电源模块分别与所述电源接入模块、所述主控模块和所述开关模块连接,所述开关模块还分别与所述主控模块连接,所述主控模块还与上位机连接,所述开关模块还与固态硬盘连接,所述电源接入模块还与测试机连接;所述主控模块用于控制所述开关模块的开合状态,以控制所述电源接入模块是否接入所在回路;所述电源接入模块用于接入输入电源;所述电源模块用于将所述输入电源进行电源降压,以为所述固态硬盘进行供电;所述主控模块还用于根据所述上位机传输的检测指令,控制所述功耗测试模块对所述固态硬盘的功耗进行计算;所述主控模块还用于控制所述电源模块调节所述输入电源的参数。

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