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软件缺陷级别划分方法、装置、存储介质、电子设备及程序 

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申请/专利权人:京东方科技集团股份有限公司

摘要:本申请提供一种软件缺陷级别划分方法、装置、存储介质、电子设备及程序;所述方法包括:利用多个评价指标分别对待分级的软件缺陷进行评价,得到每个评价指标对应的单项分值;为每个评价指标配置权重,利用各评价指标的权重对各单项分值加权,得到缺陷度量值;根据所述缺陷度量值的大小对所述软件缺陷进行分级。

主权项:1.一种软件缺陷级别划分方法,其特征在于,包括:利用多个评价指标分别对待分级的软件缺陷进行评价,得到每个评价指标对应的单项分值;为每个评价指标配置权重,利用各评价指标的权重对各单项分值加权,得到缺陷度量值;根据所述缺陷度量值的大小对所述软件缺陷进行分级。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 京东方科技集团股份有限公司 软件缺陷级别划分方法、装置、存储介质、电子设备及程序

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