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申请/专利权人：株式会社爱德万测试
摘要：本发明提供一种能够高精度地实施具有天线的DUT的OTA测试的电子部件处理装置、电子部件测试装置及插座。电子部件处理装置具备：恒温槽；使DUT移动并将其按压于插座的处理器；与恒温槽相邻配置的电波暗室；配置于电波暗室的内部的测试天线；和能够使从DUT的设备天线或测试天线辐射的电波透过的窗构件，恒温槽具备形成于该恒温槽的壁面的开口，电波暗室具备配置于该电波暗室的内壁的电波吸收件、和朝向测试天线的电波的收发方向开口的开口，恒温槽和电波暗室以开口与开口对置的方式连接，窗构件封闭开口。
主权项：1.一种电子部件处理装置，其具备：恒温槽，能够在内部配置与具有第一天线的DUT即被测试电子部件电连接的插座；移动单元，能够使所述DUT移动并将该DUT按压于所述插座；电波暗室，与所述恒温槽相邻配置；第二天线，配置于所述电波暗室的内部；以及第一窗构件，能够使从所述第一天线或第二天线辐射的电波透过，所述恒温槽具备形成于所述恒温槽的壁面的第一开口，所述电波暗室具备：电波吸收件，配置于所述电波暗室的内壁；以及第二开口，朝向所述第二天线的电波的收发方向开口，所述恒温槽和所述电波暗室以所述第一开口与所述第二开口对置的方式连接，所述第一窗构件封闭所述第一开口。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 株式会社爱德万测试 电子部件处理装置、电子部件测试装置及插座
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