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用于测量气流的流速的方法和设备 

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申请/专利权人:普美康过程测量控制有限公司

摘要:本发明涉及一种用于测量气流14的流速v的方法,其具有以下步骤:a时间分辨地在气流14之外的第一测量点P1处测量气流14的IR辐射的IR辐射参数E,从而获得第一IR辐射参数曲线Eg1,1t,b时间分辨地在气流14之外的第二测量点P2处测量IR辐射参数E,从而获得第二IR辐射参数曲线Eg1,2t,c从第一IR辐射参数曲线Eg1,1t和第二IR辐射参数曲线Eg1,2t中计算渡越时间τ1,尤其是借助于交叉关联,以及d从渡越时间τ1中计算流速vG,e其中在波长g1为至少780nm的情况下以光电导的方式测量IR辐射参数Eg1,以及f测量频率f至少为1千赫兹。

主权项:1.一种用于测量气流的流速的方法,其特征在于以下步骤:(a)时间分辨地在所述气流(14)之外的第一测量点(P1)处测量所述气流(14)的IR辐射的IR辐射参数(E),从而获得第一IR辐射参数曲线(Eg1,1(t)),(b)时间分辨地在所述气流(14)之外的第二测量点(P2)处测量IR辐射参数(E),从而获得第二IR辐射参数曲线(Eg1,2(t)),(c)借助于交叉关联从所述第一IR辐射参数曲线(Eg1,1(t))和所述第二IR辐射参数曲线(Eg1,2(t))计算第一渡越时间(τ1),以及(d)从所述第一渡越时间(τ1)计算所述流速(vG),(e)其中所述气流(14)是包含第一气体(g1)和至少一种第二气体(g2)的气体混合物的流,其特征在于,(f)气流在管线中流动且包含颗粒,管线的壁和颗粒发出黑体辐射,(g)IR辐射参数(E)在1.5µm和15µm之间的波长区间和测量频率(f)至少为1千赫兹以光电导的方式测量,(h)IR辐射参数(E)为由气流发出的IR辐射引起的红外辐射的辐照强度,(i)所述气流(14)的温度(T)为至少1000℃。

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