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申请/专利权人：渠梁电子有限公司
摘要：本发明涉及测试领域，具体提供一种测试探针和用于测试探针的制造方法。本发明的测试探针包括：主体，所述主体包括测试端，所述测试端上设有避让孔，所述避让孔具有形成在所述测试端上的开口；和弹性件，所述弹性件与所述主体固定连接并且覆盖所述开口，所述弹性件包括与所述主体电性连接的导电层，所述导电层设置在所述弹性件的与所述避让孔相背的一侧上，使所述弹性件适于抵靠在引脚上传输电信号并且在受到所述引脚的作用力后可朝向所述避让孔内形变。上述的技术方案，旨在解决现有技术中的探针容易损坏引脚的问题。
主权项：1.一种测试探针，其特征在于，所述测试探针包括：主体，所述主体包括测试端，所述测试端上设有避让孔，所述避让孔具有形成在所述测试端上的开口；和弹性件，所述弹性件与所述主体固定连接并且覆盖所述开口，所述弹性件包括与所述主体电性连接的导电层，所述导电层设置在所述弹性件的与所述避让孔相背的一侧上，使所述弹性件适于抵靠在引脚上传输电信号并且在受到所述引脚的作用力后可朝向所述避让孔内形变。
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权利要求：
百度查询： 渠梁电子有限公司 测试探针和用于测试探针的制造方法
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