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申请/专利权人：成都飞机工业(集团)有限责任公司
摘要：本发明公开了一种平面近场法天线测量中的扫描探头修正方法，属于天线测量技术领域，包括以下步骤：步骤一、在待测天线的辐射近场区，进行平面近场扫描测量，得到一个平面上的待测天线近场幅度和相位数据；步骤二、将天线近场数据变换到天线远场；步骤三：测量扫描探头的增益和方向图；步骤四：将扫描探头的增益和方向图从共同结果中去除，得到待测天线的增益和远场方向图。本发明通过实测数据进行探头影响去嵌入，从共同结果中将探头影响去除，可以大幅度降低探头影响，有效修正增益和方向图测量结果；解决了探头影响的实际评估分析，对于提升平面近场法天线测量准确度具有至关重要的意义。
主权项：1.一种平面近场法天线测量中的扫描探头修正方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一、在待测天线的辐射近场区，使用两个正交扫描探头进行平面近场扫描测量，得到距离待测天线一定距离的平面上的待测天线近场幅度和相位数据；待测天线为发射天线，扫描探头为开口波导形式，该扫描探头在距离待测天线3至10个波长的距离的一个平面上间隔移动，用来采集待测天线辐射近场处的场分布，包含场幅度和场相位；步骤二、将天线近场数据变换到天线远场；步骤三、测量扫描探头的增益和方向图；采用三天线外推法对探头进行增益测量，采用远场法对探头进行方向图测量；步骤四、将扫描探头的增益和方向图从共同结果中去除，得到待测天线的增益和远场方向图。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 成都飞机工业(集团)有限责任公司 一种平面近场法天线测量中的扫描探头修正方法
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