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一种存储设备的综合性测试系统及方法 

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申请/专利权人:合肥康芯威存储技术有限公司

摘要:本发明提供了一种存储设备的综合性测试系统及方法,综合性测试系统包括:测试舱体,用于连接至少一个存储器;环境控制模块,用于控制测试舱体内的测试环境;处理模块,用于配置测试项目以及该测试项目所对应的测试参数;所述处理模块还用于根据多个测试项目设定测试流程,以对所述存储器进行测试,并生成不同测试流程的多个测试报告;所述处理模块还用于基于同一测试流程的多个测试报告进行比较分析生成测试结果。本发明能够提高其测试结果的可靠性和准确性,提高测试系统的集成度,使其具有高度的稳定性和灵活性,以适应不同的测试需求和测试场景。

主权项:1.一种存储设备的综合性测试系统,其特征在于,包括:测试舱体,用于连接至少一个存储器;环境控制模块,用于控制测试舱体内的测试环境;处理模块,用于配置测试项目以及该测试项目所对应的测试参数;所述处理模块还用于根据多个测试项目设定测试流程,以对所述存储器进行测试,并生成不同测试流程的多个测试报告;所述处理模块还用于基于同一测试流程的多个测试报告进行比较分析生成测试结果。

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权利要求:

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