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芯片调试模组、装置及系统 

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申请/专利权人:上海合芯数字科技有限公司;合芯科技有限公司

摘要:本申请涉及一种芯片调试模组、装置及系统。芯片调试模组包括:至少一探针组件,用于与待调试芯片连接,按照待调试芯片运行频率对应的周期采集待调试芯片运行产生的原始信号,并根据原始信号生成测试报文;数据转换组件,分别与探针组件、上位机连接,用于接收探针组件发送的测试报文,并将测试报文转发至上位机,以指示上位机根据测试报文按照周期还原待调试芯片的运行信息。本申请采用非侵入的方式且按照待调试芯片运行频率对应的周期采集待调试芯片的原始信号,不破坏待调试芯片的原代码,提高了芯片调试的效率和准确度。

主权项:1.一种芯片调试模组,其特征在于,包括:至少一探针组件,用于与待调试芯片连接,按照所述待调试芯片运行频率对应的周期采集所述待调试芯片运行产生的原始信号,并根据所述原始信号生成测试报文;数据转换组件,分别与所述探针组件、上位机连接,用于接收所述探针组件发送的所述测试报文,并将所述测试报文转发至所述上位机,以指示所述上位机根据所述测试报文按照所述周期还原所述待调试芯片的运行信息。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 上海合芯数字科技有限公司 合芯科技有限公司 芯片调试模组、装置及系统

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