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申请/专利权人：株式会社理学
摘要：提供针对测定数据算出表示模型的优化程度的指标的解析装置、系统、方法以及记录介质。一种解析装置400，针对测定数据所遵循的概率分布函数为已知的所述测定数据，算出表示包含电子密度分布的信息的模型的优化程度的指标，所述解析装置400具备：测定数据取得部410，其取得所述测定数据；计算数据取得部420，其取得从所述模型计算出的计算数据；以及指标算出部430，其针对由包含所述测定数据和所述计算数据的规定的数学式定义的残差、以及基于所述概率分布函数和所述规定的数学式定义的所述残差的期待值，算出包含所述残差与所述残差的期待值之比的指标GOF。
主权项：1.一种解析装置，是针对测定数据所遵循的概率分布函数为已知的所述测定数据算出表示包含电子密度分布的信息的模型的优化程度的指标的解析装置，其特征在于，具备：测定数据取得部，其取得所述测定数据；计算数据取得部，其取得从所述模型计算出的计算数据；以及指标算出部，其针对由包含所述测定数据和所述计算数据的规定的数学式定义的残差、以及基于所述概率分布函数和所述规定的数学式定义的所述残差的期待值，算出包含所述残差与所述残差的期待值之比的指标GOF。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 株式会社理学 解析装置、系统、方法以及记录介质
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