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申请/专利权人:杭州世德云测科技有限公司
摘要:本申请提供了一种存储器测试方法及芯片,所述存储器包括多个存储单元,所述方法包括以下步骤:对每一所述存储单元分别写入二进制数值,形成第一排布阵列;对所述第一排布阵列进行逻辑运算,得到对应的第一逻辑运算结果;判断所述第一逻辑运算结果和第一预设结果是否相同;若所述第一逻辑运算结果和所述第一预设结果相同,对每一所述存储单元分别写入二进制数值,形成第二排布阵列;对所述第二排布阵列进行逻辑运算,得到对应的第二逻辑运算结果;基于所述第二逻辑运算结果和第二预设结果,判断所述存储器是否存在故障,并输出第一存储器测试结果;本申请提高了存储器的测试效率以及降低了系统能耗。
主权项:1.一种存储器测试方法,其特征在于,所述存储器包括多个存储单元,所述方法包括以下步骤:对每一所述存储单元分别写入二进制数值,形成第一排布阵列;对所述第一排布阵列进行逻辑运算,得到对应的第一逻辑运算结果;判断所述第一逻辑运算结果和第一预设结果是否相同;若所述第一逻辑运算结果和所述第一预设结果相同,对每一所述存储单元分别写入二进制数值,形成第二排布阵列;其中,同一所述存储单元在所述第一排布阵列和所述第二排布阵列中写入的二进制数值不同;对所述第二排布阵列进行逻辑运算,得到对应的第二逻辑运算结果;基于所述第二逻辑运算结果和第二预设结果,判断所述存储器是否存在故障,并输出第一存储器测试结果。
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权利要求:
百度查询: 杭州世德云测科技有限公司 存储器测试方法及芯片
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