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申请/专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

摘要：本发明涉及成像系统非均匀性校正领域，尤其涉及一种大口径空间成像系统的非均匀校正及正确性检测方法，针对非均匀校正链路在应用中可能存在图像数据和校正系数的地址映射错误的情况，在验证过程中将二者的地址进行逐步变化；方案一是校正系数逐渐变化，相邻系数的变化值要求校正后的图像DN值差值大于或者等于1；方案二是校正系数值固定，而图像的灰度值是逐渐变化的，相邻图像灰度的变化值要求校正后的图像DN值差值大于或者等于1；方案三是针对渐晕区域的最小灰度平均值与非渐晕区域的最大灰度平均值确定校正系数，并根据校正系数整数部分的最大取值确定处理过程中输出图像数据的位宽，根据设置的校正系数值范围需要检查的灰度范围。

主权项：1.一种大口径空间成像系统的非均匀校正及正确性检测方法，利用TDICMOS数据校正系统实现，其特征在于，根据输入的并行图像数据的位宽n设置乘积校正系数的小数部分和加减校正系数c的位宽，乘积校正系数由二次校正系数a和一次校正系数b组成；并行图像数据的校正公式为：y＝ax2+bx+c，式中，x为输入的并行图像数据的DN值，y为校正后的图像的DN值；则二次校正系数a的小数部分所占二进制位数为2n，正负符号占1bit，二次校正系数a的整数部分占1bit；加减校正系数c的正负符号占1bit，加减校正系数c的整数部分所占二进制位数为n；一次校正系数b的小数部分所占二进制位数为n+1，一次校正系数b的整数部分所占二进制位数为k，即要求整数部分代表的十进制数大于采集得到的最大图像的DN值与最小图像的DN值DNmin的比值： ；式中，DNmax表示最大图像的DN值，DNmin表示最小图像的DN值；非均匀校正的步骤包括：S11.中间结果预留：一次校正系数b与输入的并行图像数据的乘积总位宽为2n+k+1，截取的位宽m不低于n+k+1，从乘积总位宽2n+k+1的第2n-1bit开始截取；二次校正系数a与输入的并行图像数据的乘积平方位宽为4n+1，乘积平方位宽的最低2n-1bit截掉，从第2nbit开始截取位宽m；S12.ax2+bx操作：ax2与bx的位宽均扩展为m+1，高位填0，位宽变为m+1；若二次校正系数a为正数，正负符号为正，则ax2+bx的结果为ax2的绝对值与bx的绝对值相加；若二次校正系数a为负数，ax2的绝对值比bx的绝对值大，则正负符号为负，ax2+bx的结果为ax2的绝对值减去bx的绝对值；若二次校正系数a为负数，ax2的绝对值比bx的绝对值小，则正负符号为正，ax2+bx的结果为bx的绝对值减去ax2的绝对值；S13.ax2+bx+c操作：将ax2+bx的结果和加减校正系数c的位宽均扩展为m+2，高位填0，位宽变为m+2；若ax2+bx的结果为正，则正负符号为正，ax2+bx+c的结果为ax2+bx的结果的绝对值与加减校正系数c的绝对值相加；若ax2+bx的结果为负，ax2+bx的结果的绝对值比加减校正系数c的绝对值大，则正负符号为负，ax2+bx+c的结果为ax2+bx的结果的绝对值减去加减校正系数c的绝对值；若ax2+bx的结果为负，ax2+bx的结果的绝对值比加减校正系数c的绝对值小，则正负符号为正，ax2+bx+c的结果为加减校正系数c的绝对值减去ax2+bx的结果的绝对值；S14.校正后的图像的DN值处理：若高m-n+1位全为0，ax2+bx+c的符号为正，低n+1到2位全为1，则最终输出值全为1；若高m-n+1位全为0，ax2+bx+c的符号为正，低n+1到2位不全为1，最低为1，则最终输出值为低n+1到2位的值加1；若高m-n+1位全为0，ax2+bx+c的符号为正，低n+1到2位不全为1，最低为0，则最终输出值为低n+1到2位的值；若高m-n+1位不全为0，ax2+bx+c的符号为正，则最终输出值全为1；若高m-n+1位不全为0，ax2+bx+c的符号为负，则最终输出值全为0。

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百度查询： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 大口径空间成像系统的非均匀校正及正确性检测方法