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申请/专利权人：深圳华芯星半导体有限公司
摘要：本实用新型提供了一种TF卡稳定性测试装置，包括壳体，所述壳体的上部表面开设有与所述壳体连接的振动孔，所述壳体的内部设置有传动组件，所述壳体的内部设置有振动组件，所述振动组件的一端与所述传动组件安装，所述振动组件的顶部设置有测试卡槽，所述测试卡槽的内部插接有TF卡，所述测试卡槽的一端通过线缆连接有测试器，所述测试器的底部设置于所述壳体的上部表面，本实用新型通过设置传动组件和振动组件，提高TF卡在振动环境下的稳定性测试效果和测试准确性，提高TF卡与卡槽配合的稳定性，避免卡槽振动时TF卡发生偏移的问题发生，通过设置第二电机、伸缩杆、托板、推杆和滑动孔，方便测试人员取出TF卡。
主权项：1.一种TF卡稳定性测试装置，包括壳体1，其特征在于，所述壳体1的上部表面开设有与所述壳体1连接的振动孔2，所述壳体1的内部设置有传动组件3，所述壳体1的内部设置有振动组件4，所述振动组件4的一端与所述传动组件3安装，所述振动组件4的顶部设置有测试卡槽5，所述测试卡槽5的内部插接有TF卡6，所述测试卡槽5的一端通过线缆7连接有测试器8，所述测试器8的底部设置于所述壳体1的上部表面。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳华芯星半导体有限公司 一种TF卡稳定性测试装置
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