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申请/专利权人：同济大学
摘要：本发明涉及一种同时测量纳米流体浓度和纳米颗粒尺寸分布的方法，方法包括以下步骤：S1、构建纳米颗粒辐射特性数据集；S2、得到纳米流体光谱透射率测量值并获取流体局域表面等离子共振效应峰值波长；S3、计算纳米流体的透射率；S4、计算目标函数达到最小值时的不同尺寸纳米颗粒的浓度；S5、将不同尺寸纳米颗粒的浓度相加，得到纳米流体的浓度，同时计算不同尺寸纳米颗粒个数平均值和标准差，将平均值和标准差代入正态分布函数，得到不同尺寸纳米颗粒的正态分布概率密度。与现有技术相比，本发明具有仅通过普通光谱仪单次测量纳米流体光谱，即可同时获得纳米流体浓度和纳米颗粒尺寸分布的特点，显著降低了纳米流体表征的测量成本。
主权项：1.一种同时测量纳米流体浓度和纳米颗粒尺寸分布的方法，其特征在于，方法包括以下步骤：S1、构建纳米颗粒辐射特性数据集；S2、进行纳米流体光谱透射率测量，得到纳米流体光谱透射率测量值并获取流体局域表面等离子共振效应峰值波长；S3、基于流体局域表面等离子共振效应峰值波长和纳米颗粒辐射特性数据集进行纳米颗粒尺寸范围匹配，得到被测溶液中纳米颗粒的尺寸范围，并由所述尺寸范围得到不同尺寸的纳米颗粒的粒子消光系数公式和包含所述不同尺寸纳米颗粒的纳米流体的消光系数计算公式，从而得到纳米流体的光谱透射率计算公式；S4、基于所述纳米流体的光谱透射率计算公式和纳米流体光谱透射率测量值以及构建的目标函数，计算使得目标函数达到最小时的不同尺寸纳米颗粒的浓度值；S5、将不同尺寸纳米颗粒的浓度值相加，得到纳米流体含有纳米颗粒的总浓度，同时计算不同尺寸纳米颗粒个数平均值和标准差，将平均值和标准差代入正态分布函数，得到不同尺寸纳米颗粒的正态分布概率密度。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 同济大学 一种同时测量纳米流体浓度和纳米颗粒尺寸分布的方法
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