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一种基于寻址电极独立制备多个纳米孔的方法 

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申请/专利权人:中北大学

摘要:本发明属于纳米孔技术领域,具体涉及一种基于寻址电极独立制备多个纳米孔的方法,包括下列步骤:在硅晶片表面上化学气相沉积二氧化硅层;在二氧化硅层上沉积的氮化硅膜;在氮化硅膜上沉积寻址电极;在硅晶片背面蚀刻氮化硅窗口;将氮化硅芯片连接到PCB电路板上;将氮化硅芯片与PCB电路板安装在溶液池中间;设置阈值电流,当观测到纳米孔的漏电流达到阈值电流之后,将源表的施加电压降为0V;计算所制备纳米孔的孔径。本发明通过在寻址电极上施加负电压来克服这一限制,无需依赖氧化反应,从而显著增加了氮化硅膜上的传导效率。这种改进使得在更低的电压下即可实现氮化硅膜的击穿,进而实现了纳米孔的精确定位制备。

主权项:1.一种基于寻址电极独立制备多个纳米孔的方法,其特征在于:包括下列步骤:S1、在硅晶片表面上化学气相沉积二氧化硅层;S2、在二氧化硅层上通过低温化学气相沉积低应力的氮化硅膜;S3、在氮化硅膜上沉积寻址电极;S4、在硅晶片背面蚀刻氮化硅窗口;S5、将沉积有寻址电极的氮化硅芯片通过引线键合的方式连接到PCB电路板上;S6、将氮化硅芯片与PCB电路板安装在溶液池中间;S7、通过源表来施加击穿电压在PCB电路板的接线柱和与氮化硅膜背面接触的电解质溶液,PCB电路板上的8个独立拨动开关用于控制施加电压所作用的寻址电极;S8、设置阈值电流,当观测到纳米孔的漏电流达到阈值电流之后,将源表的施加电压降为0V;S9、计算所制备纳米孔的孔径。

全文数据:

权利要求:

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