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一种处理器主板用测试装置 

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申请/专利权人:秦安年

摘要:本实用新型公开了一种处理器主板用测试装置,涉及测试装置技术领域,包括测试装置本体与测试主体;所述测试装置本体的顶面安装有测试台,所述测试台的顶面开设有呈矩阵布置的插装孔,所述插装孔内可拆卸插装有定位柱;所述插装孔内安装有与定位柱电性连接的接地线。本实用新型公开了,通过设置的测试台、定位柱、接地线、定位销与压紧结构,可以根据主板的尺寸等情况,调整定位销在测试台上插装的位置,可以方便主板位置的固定,接地线可以通过定位柱将主板上的静电导地消除,压紧结构可以将主板压紧在测试台上,可以确保主板在测试时的稳定性,减少主板在测试过程中出现偏动,同时其结构相对较小,不会妨碍到测试本体的测试作业。

主权项:1.一种处理器主板用测试装置,其特征在于,包括测试装置本体(1)与测试主体(2);所述测试装置本体(1)的顶面安装有测试台(3),所述测试台(3)的顶面开设有呈矩阵布置的插装孔(4),所述插装孔(4)内可拆卸插装有定位柱(5);所述插装孔(4)内安装有与定位柱(5)电性连接的接地线(6);将主板套在装定位柱(5)上时,由定位柱(5)、金属块(13)与接地线(6)将静电导入大地进行静电消除;所述定位柱(5)的外周开设有收纳孔,且收纳孔内滑动安装有定位销(7),所述插装孔(4)的内壁开设有与定位销(7)卡接的环形槽;所述定位柱(5)上还安装有压紧结构,压紧结构用于将主板压紧在测试台(3)的顶面;所述测试主体(2)位于测试台(3)的上方。

全文数据:

权利要求:

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