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基于ACA/ACF的高密度窄间距芯片高可靠性倒装互连的两步工艺法 

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申请/专利权人:长沙安牧泉智能科技有限公司

摘要:本发明提供了一种基于ACAACF的高密度窄间距芯片高可靠性倒装互连的两步工艺法,包括以下步骤:步骤1:在芯片上涂一层不高于凸点bump高度的绝缘胶,且使绝缘胶不覆盖bump的顶端;步骤2:在基板上涂覆一层各向异性导电胶ACAACF,然后将芯片和基板进行热压键合,得到高可靠性的互连。本发明隔断了两个相邻bump之间的连接,可以有效的防止在固化的过程中导电粒子进入两个bump之间,大大的减小了bump之间发生短路的概率;并且降低了倒装键合时bump之间空洞的产生,减少了ACAACF互连的接触热阻,提高了窄间距芯片互连的可靠性。此外,本发明降低了因材料CTE系数不匹配带来的应力;提高了芯片互连的粘结强度,增加了芯片键合的力学性能。

主权项:1.一种基于ACAACF的高密度窄间距芯片高可靠性倒装互连的两步工艺法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1:在芯片上涂一层不高于凸点高度的绝缘胶,且使绝缘胶不覆盖凸点的顶端;步骤2:在基板上涂覆一层各向异性导电胶,然后将芯片和基板进行热压键合,得到高可靠性的互连;所述凸点的间距为10um以下;所述各向异性导电胶中的导电粒子的直径小于1.5um所述绝缘胶的厚度与凸点的高度差不大于0.5um。

全文数据:

权利要求:

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