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申请/专利权人：北京理工大学
摘要：本发明公开的一种基于偏振的双帧干涉图相位提取方法，属于光电测量技术领域。本发明实现方法为：通过采集系统采集第一张干涉图；在采集系统加入一个偏振片，采集第二张干涉图，第二张干涉图与第一张干涉图的相位差为pi2；通过利用反正切方法获取包裹相位Φ，使用二维快速解包裹算法进行解包裹，从而恢复出被测面形的真实相位，即基于偏振实现双帧干涉图相位提取。本发明仅需要两帧相位差为pi2的干涉图，用极值法处理后直接进行正切反正切的相位提取方法，进而恢复面形。本发明不需要移相器、分光元件等高精度元器件，并且无需对干涉图进行归一化、去噪等预处理操作，具有光路简单、测量范围大、精度高、效率高的优点。
主权项：1.基于偏振的双帧干涉图相位提取方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤一、通过采集系统采集第一张干涉图；步骤二、在采集系统加入一个偏振片，采集第二张干涉图，第二张干涉图与第一张干涉图的相位差为pi2；第一帧干涉图的光强表达式为： 第二帧干涉图的光强表达式为： 式中，x为光强矩阵横坐标，y为光强矩阵纵坐标，为相位差，也包括经过器件带来的固有相位移动；A代表背景光强，B代表调制光强；步骤三、极值法求取相位；当为1时MAXI1x,y＝A+B3当为-1时MINI2x,y＝A-B4由式34求出A,B的数值A＝[MAXI1x,y+MINI2x,y]25B＝[MAXI1x,y-MINI2x,y]26由式1256得到的数值 由式78知 通过利用反正切方法获取包裹相位Φ，使用二维快速解包裹算法进行解包裹，从而恢复出被测面形的真实相位，即基于偏振实现双帧干涉图相位提取。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京理工大学 基于偏振的双帧干涉图相位提取方法
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