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一种用于射频开关的寿命检测系统 

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申请/专利权人:福建星海通信科技有限公司

摘要:本发明涉及射频开关寿命检测技术领域,特别涉及一种用于射频开关的寿命检测系统,包括第一半导体开关、第二半导体开关、第三半导体开关、第四半导体开关和第五半导体开关,通过将第一半导体开关、第二半导体开关、第三半导体开关、第四半导体开关和第五半导体开关与待测件内的各个射频开关连接,使得待测件内射频开关的寿命可以通过各个半导体开关的循环闭合次数来表征,通过模拟射频开关控制的功能,实现射频开关的通道切换,提高自动化程度,便于测试射频开关的射频性能。

主权项:1.一种用于射频开关的寿命检测系统,其特征在于,包括第一半导体开关、第二半导体开关、第三半导体开关、第四半导体开关和第五半导体开关;所述第一半导体开关的不动端与外设的设备信源输入端口电连接,所述第二半导体开关的不动端与外设的设备信源输出端口电连接,所述第一半导体开关的第一动端与第三半导体开关的不动端电连接,所述第一半导体开关的第二动端与第四半导体开关的不动端电连接,所述第一半导体开关的第三动端与第五半导体开关的不动端电连接;所述第三半导体开关的动端与待测件内的第一射频开关的动端电连接,所述第四半导体开关的动端与待测件内的第二射频开关的动端电连接,所述第五半导体开关的动端与待测件内的第三射频开关的动端电连接,所述第一射频开关的不动端与第二半导体开关的第一动端电连接,所述第二射频开关的不动端与第二半导体开关的第二动端电连接,所述第三射频开关的不动端与第二半导体开关的第三动端电连接。

全文数据:

权利要求:

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