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申请/专利权人：昆仑芯(北京)科技有限公司
摘要：本公开提供了一种用于验证芯片的访存控制器的方法及装置、设备和介质，涉及计算机技术领域，尤其涉及芯片验证技术领域。实现方案为：确定待访问的目标存储器中的至少一个占用地址；基于所述至少一个占用地址，确定针对随机地址生成函数的约束条件，其中，根据所述约束条件，所述随机地址生成函数的随机地址生成结果不包括所述至少一个占用地址；通过基于所述约束条件执行所述随机地址生成函数，生成第一目标地址；以及通过利用所述访存控制器访问所述目标存储器的所述第一目标地址，确定针对所述访存控制器的第一验证结果。
主权项：1.一种用于验证芯片的访存控制器的方法，所述方法包括：确定待访问的目标存储器中的至少一个占用地址；基于所述至少一个占用地址，确定针对随机地址生成函数的约束条件，其中，根据所述约束条件，所述随机地址生成函数的随机地址生成结果不包括所述至少一个占用地址；通过基于所述约束条件执行所述随机地址生成函数，生成第一目标地址；以及通过利用所述访存控制器访问所述目标存储器的所述第一目标地址，确定针对所述访存控制器的第一验证结果。
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权利要求：
百度查询： 昆仑芯(北京)科技有限公司 用于验证芯片的访存控制器的方法及装置、设备和介质
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