买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网恭喜昆明理工大学申请的专利一种考虑安装偏心的任意齿厚偏差测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119293396B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411428764.0，技术领域涉及：G06F17/18；该发明授权一种考虑安装偏心的任意齿厚偏差测量方法是由柳小勤;彭进设计研发完成，并于2024-10-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种考虑安装偏心的任意齿厚偏差测量方法在说明书摘要公布了：本发明属于齿厚偏差计算技术领域，公开了一种考虑安装偏心的任意齿厚偏差测量方法，包括以下步骤：S1、建立齿轮齿面的三维模型：根据右手定则建立齿轮齿面的直角坐标系；S2、求解安装偏心：基于实际齿厚测量点和被测齿轮中心的几何关系，求解安装偏心；S3、建立任意齿厚偏差的计算模型：对实际齿厚测量点进行修正，并建立任意评价圆的齿厚偏差的计算模型；S4、建立3D齿厚偏差评价体系：建立数学模型用于结构化表达齿厚偏差，并基于所述数学模型计算3D齿厚偏差的统计学评价指标；本发明解决了现有测量方法无法满足对任意齿厚偏差进行测量、安装偏心误差对齿厚偏差测量精度的影响的问题。

本发明授权一种考虑安装偏心的任意齿厚偏差测量方法在权利要求书中公布了：1.一种考虑安装偏心的任意齿厚偏差测量方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、建立齿轮齿面的三维模型根据右手定则建立齿轮齿面的笛卡尔直角坐标系，根据齿面的形状和位置参数，建立齿轮齿面上任意一点所在的渐开线齿面方程；S2、求解安装偏心基于实际齿厚测量点和被测齿轮中心的几何关系，通过高斯牛顿法迭代求解安装偏心；S3、建立任意齿厚偏差的计算模型利用S2得到的安装偏心对实际齿厚测量点进行修正，得到准确的齿厚测量点，并建立任意评价圆的齿厚偏差的计算模型，利用计算模型计算任意齿厚偏差；其中，任意评价圆齿厚偏差ep的计算模型表达式为：ep＝rp×θp-ζp 其中，rp是任意评价圆半径，rb是基圆半径，r是分度圆半径，θp是任意评价圆齿厚极角值，θb是基圆齿厚极角值，ζp是任意评价圆上的齿厚测量点极角，z是齿轮总数；S4、建立3D齿厚偏差评价体系建立数学模型用于结构化表达齿厚偏差，以从径向、齿向和周向对所有齿面的齿厚偏差数据进行统计分析，并基于所述数学模型计算3D齿厚偏差的统计学评价指标。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人昆明理工大学，其通讯地址为：650031 云南省昆明市呈贡区景明南路727号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。