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【发明公布】一种电缆绝缘材料中DCP分布均一性评价方法_江苏上上电缆集团新材料有限公司;江苏上上电缆集团有限公司_202310578950.1 

申请/专利权人:江苏上上电缆集团新材料有限公司;江苏上上电缆集团有限公司

申请日:2023-05-22

公开(公告)日:2023-08-18

公开(公告)号:CN116609287A

主分类号:G01N21/3563

分类号:G01N21/3563;G01N21/01

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2023.09.05#实质审查的生效;2023.08.18#公开

摘要:本申请提供了一种电缆绝缘材料中DCP分布均一性评价方法,涉及电缆绝缘材料技术领域。其包括:获取绝缘粒料,制备若干样品;对每一样品分别进行红外光谱测试,获得红外光谱图,获取样品中DCP的特征峰面积以及内标峰面积,计算用于表征DCP含量的CI指数,CI指数的计算公式为:CI=AmAn,Am为特征峰面积,An为内标峰面积;基于若干样品的CI指数,计算标准差值,若标准差值不大于预设标准差值,则评价该绝缘粒料中的DCP分布均一,否则为不均一。本申请采用红外光谱法定量表征DCP的分布均一性,有利于在生产过程中及时控制工艺及配方,确保绝缘材料的高质量生产。

主权项:1.一种电缆绝缘材料中DCP分布均一性评价方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤S1:获取绝缘粒料,制备出若干样品;步骤S2:对每一样品分别进行红外光谱测试,获得红外光谱图,确定DCP的特征峰位置和内标峰位置,从所述红外光谱图中获取样品中DCP的特征峰面积以及内标峰面积,计算用于表征DCP含量的CI指数,CI指数的计算公式为:CI=AmAn,其中,m为特征峰位置,Am为特征峰面积,n为内标峰位置,An为内标峰面积;步骤S3:基于若干样品的CI指数,计算出绝缘材料的离散数值;所述离散数值包括标准差值,若标准差值不大于预设标准差值,则评价该绝缘粒料中的DCP分布均一,否则为不均一。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 江苏上上电缆集团新材料有限公司;江苏上上电缆集团有限公司 一种电缆绝缘材料中DCP分布均一性评价方法

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