申请/专利权人：中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院

申请日：2020-09-18

公开（公告）日：2024-06-21

公开（公告）号：CN114428043B

主分类号：G01N15/08

分类号：G01N15/08

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.06.21#授权;2022.05.20#实质审查的生效;2022.05.03#公开

摘要：本发明公开了多孔介质孔径分布表征方法及电子设备，该方法包括：获取多孔介质样品的原始孔径和原始孔体积增量；根据原始孔径，确定孔径分布曲线的坐标体系；基于原始孔径和所需的数据点个数，计算每个数据点对应的孔径；基于原始孔体积增量，计算每个原始孔径对应的累计孔体积，获得每个数据点对应的孔体积增量；基于每个数据点的孔径和孔体积增量，在坐标体系中绘制孔径分布曲线；基于所述孔径分布曲线的峰值位置，确定主孔及次孔的发育尺寸，从而表征储层的孔隙分布。本发明根据孔径分布曲线的峰值位置确定主孔的发育尺寸，主孔及次孔的发育尺寸反应储层的空隙分布特征，有利于评价储层的好坏，为储层的开发提供依据。

主权项：1.一种多孔介质孔径分布表征方法，其特征在于，包括：获取多孔介质样品的原始孔径和原始孔体积增量；根据所述原始孔径，确定孔径分布曲线的坐标体系；基于所述原始孔径和所需的数据点个数，计算每个数据点对应的孔径；基于所述原始孔体积增量，计算每个原始孔径对应的累计孔体积；基于每个所述原始孔径对应的累计孔体积，获得每个数据点对应的孔体积增量；基于所述每个数据点的孔径和孔体积增量，在所述坐标体系中绘制孔径分布曲线；基于所述孔径分布曲线的峰值位置，确定主孔及次孔的发育尺寸，从而表征储层的孔隙分布；所述根据所述原始孔径，确定孔径分布曲线的坐标体系包括：计算所述原始孔径的最大值与最小值的商；若所述最大值与最小值的商大于预设阈值，则所述坐标体系为对数坐标系，横坐标为孔径的对数，纵坐标为孔体积增量；若所述最大值与最小值的商小于预设阈值，则所述坐标体系为普通坐标系，横坐标为孔径，纵坐标为孔体积增量；所述基于所述原始孔径和所需的数据点个数，计算每个数据点对应的孔径包括：基于所述原始孔径和所需的数据点个数，计算坐标间隔；基于所述坐标间隔和原始孔径，计算每个数据点对应的孔径；当所述坐标体系的横坐标为普通坐标系时，采用下述公式计算坐标间隔：Dint=（Dmax-Dmin）（n-1）其中，Dint为坐标间隔；Dmax为原始孔径的最大值；Dmin为原始孔径的最小值；n为数据点个数；当所述坐标体系的横坐标为对数坐标系时，采用下述公式计算坐标间隔：logmDint=（logmDmax-logmDmin）（n-1）其中logmDint为坐标间隔对数值；logmDmax为原始孔径的最大值对数；logmDmax为原始孔径的最小值对数，m为基数；当所述坐标体系的横坐标为普通坐标系时，采用下述公式计算每个数据点对应的孔径：Di=Dmin+Dint×i-1当所述坐标体系的横坐标为对数坐标系时，采用下述公式计算每个数据点对应的孔径：logmDi=logmDmin+logmDint×i-1Di=logmDim其中，Di为第i个数据点的孔径。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院 多孔介质孔径分布表征方法及电子设备

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