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申请/专利权人：杭州华澜微电子股份有限公司
申请日：2023-11-15
公开（公告）日：2024-02-20
公开（公告）号：CN117573447A
主分类号：G06F11/22
分类号：G06F11/22
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.03.08#实质审查的生效;2024.02.20#公开
摘要：本发明涉及芯片测试领域，特别是涉及一种SAS总线注错方法、装置、设备、介质及注错芯片。本发明所提供的SAS总线注错方法，通过获取注错指令；接收物理层的待处理数据；扫描所述待处理数据，确定所述待处理数据中的匹配标识符；根据所述匹配标识符及所述注错指令，对所述待处理数据进行修改，得到错误数据。本发明提供的SAS总线注错方法中的芯片注错的方法很接近实际系统易错点，完善了芯片错误处理流程，大大提高了基于SAS接口的控制器芯片验证、测试效率，也提高了测试结果的准确性，提升了经过测试验证的芯片的工作可靠性，此外，由于本发明在所述物理层进行，因此可以对芯片中的全部层进行注错，大大提升了本发明的创造性。
主权项：1.一种SAS总线注错方法，其特征在于，包括：获取注错指令；接收物理层的待处理数据；扫描所述待处理数据，确定所述待处理数据中的匹配标识符；根据所述匹配标识符及所述注错指令，对所述待处理数据进行修改，得到错误数据。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 杭州华澜微电子股份有限公司 一种SAS总线注错方法、装置、设备、介质及注错芯片
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