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申请/专利权人：北京中科国光量子科技有限公司
申请日：2023-11-26
公开（公告）日：2024-02-20
公开（公告）号：CN117330623B
主分类号：G01N27/62
分类号：G01N27/62;G01N21/31
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.02.20#授权;2024.01.19#实质审查的生效;2024.01.02#公开
摘要：本发明属于光学质谱仪技术领域，公开了一种囚禁离子的物质检测方法与检测装置，所述装置包括离子源；离子传输装置；用于囚禁待测样品离子的离子阱；用于发射多个波长光信号的多波长光源；用于探测经过离子阱囚禁的待测样品离子吸收后多波长光信号的单光子探测模块；用于检测从离子阱出射的分离后待测样品离子的检测器；用于吸收光谱分析和质谱分析的数据分析模块。与现有技术相比，本发明提通过对囚禁离子进行质谱分析，结合多波长单光子级光信号照射并进行剩余光强探测，能够将通过荷质比分析无法分辨的物质成分利用光谱吸收差异进行分辨，实现高分辨率的物质成分分析，采用单光子探测模块进行探测可以对微量的成分实现极高的探测灵敏度。
主权项：1.一种囚禁离子的物质检测方法，其特征在于，包括如下步骤：S1：将待测样品通过离子源进行离子化处理得到多个待测离子；S2：通过离子传输装置将多个所述待测离子传输到离子阱内；S3：设定离子阱电极的射频电压和频率条件，将多个所述待测离子在离子阱中进行囚禁；S4：使用包含不同波长的具有已知光强的光源照射囚禁的待测离子；S5：使用单光子级探测模块探测通过囚禁的待测离子后的不同波长光信号的光强；S6：通过分析不同波长光信号的光强变化确定待测样品的物质成分；S7：改变离子阱射频电压，使囚禁的待测离子按照荷质比由低到高的顺序被弹出阱外进行检测，完成质谱分析。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京中科国光量子科技有限公司 一种囚禁离子的物质检测方法与检测装置
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