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一种采用trench钝化策略的硅光电倍增管阵列单元制备方法 

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申请/专利权人:无锡中微晶园电子有限公司

摘要:本发明公开一种采用trench钝化策略的硅光电倍增管阵列单元制备方法,属于半导体工艺领域。在硅衬底上依次形成第一掺杂区域和第一氧化层,进行第一次光刻,腐蚀后形成第二掺杂区域;在第二掺杂区域内进行第二次光刻,定义出雪崩区,腐蚀后形成第三掺杂区域;在非第二掺杂区域内进行第三次光刻,定义出隔离槽;向隔离槽内通入POCl3气体,定义出隔离槽内部为第四掺杂区域,炉管退火使第四掺杂区域充分掺杂;在第二掺杂区域内进行第四次光刻,制备出接触孔,淀积金属后进行第五次光刻,腐蚀出正面金属电极;在硅衬底背面淀积背面金属电极。本发明的工艺简单,对半导体设备的能力要求较低,通过简单的掺杂即可完成隔离槽钝化,屏蔽硅槽工艺造成的界面损伤。

主权项:1.一种采用trench钝化策略的硅光电倍增管阵列单元制备方法,其特征在于,包括:步骤1:在硅衬底上依次形成第一掺杂区域和第一氧化层,进行第一次光刻,腐蚀后形成第二掺杂区域;步骤2:在第二掺杂区内域进行第二次光刻,定义出雪崩区,腐蚀后形成第三掺杂区域;步骤3:在非第二掺杂区域内进行第三次光刻,定义出隔离槽,腐蚀后形成第四掺杂区域,使用HF溶液清洗表面;步骤4:向隔离槽内通入POCl3气体,使得隔离槽内部充分掺杂;步骤5:高温退火生长第二氧化层,使得P离子掺杂入隔离槽内部,改变隔离槽表面的极性;步骤6:在第二掺杂区域内进行第四次光刻,制备出接触孔,淀积金属后进行第五次光刻,腐蚀出正面金属电极;步骤7:在硅衬底背面淀积背面金属电极。

全文数据:

权利要求:

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