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申请/专利权人：三星电子株式会社
摘要：一种系统芯片包括：第一核中的第一扫描寄存器，该第一扫描寄存器最靠近第一核的输入端口；第一扫描寄存器的反馈路径上的反相电路；第一核中的第二扫描寄存器；以及逻辑电路，其位于第一扫描寄存器与第二扫描寄存器之间的数据路径上。在用于逻辑电路的全速测试的测试模式中，反相电路通过反转从第一扫描寄存器输出的扫描数据产生测试数据，第一扫描寄存器响应于时钟信号的第一脉冲存储测试数据，逻辑电路基于从第一扫描寄存器输出的测试数据产生结果数据，并且第二扫描寄存器响应于时钟信号的第二脉冲存储结果数据。
主权项：1.一种包括多个核的系统芯片，包括：所述多个核的第一核中的第一扫描寄存器，所述第一扫描寄存器最靠近所述第一核的输入端口；所述第一扫描寄存器的反馈路径上的反相电路；所述第一核中的第二扫描寄存器；以及逻辑电路，其位于所述第一扫描寄存器与所述第二扫描寄存器之间的数据路径上，其中：在用于所述逻辑电路的全速测试的测试模式中，所述反相电路通过反转从所述第一扫描寄存器输出的扫描数据来产生测试数据，所述第一扫描寄存器响应于时钟信号的第一脉冲存储所述测试数据，所述逻辑电路基于从所述第一扫描寄存器输出的测试数据产生结果数据，并且所述第二扫描寄存器响应于所述时钟信号的第二脉冲存储所述结果数据。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 三星电子株式会社 用于逻辑电路的全速测试的系统芯片及其操作方法
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