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一种深矢高非球面光学元件铣磨方法 

申请/专利权人:吉林交通职业技术学院

申请日:2024-04-10

公开(公告)日:2024-05-10

公开(公告)号:CN118003159A

主分类号:B24B1/00

分类号:B24B1/00;B24B13/00;B24B49/00;B24B27/00

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.05.28#实质审查的生效;2024.05.10#公开

摘要:本发明公开了光学元件铣磨领域的一种深矢高非球面光学元件铣磨方法,包括以下步骤:准备加工磨轮,磨轮分别设有移动平台和旋转平台;构建BP神经网络,在光学元件非球面子午截面曲线上进行样本采集,获取基础加工轨迹,将待插补曲线的切点选取作为采集样本,对BP神经网络进行大量训练优化基础加工轨迹,每次训练均测量磨轮实际尺寸;收集训练中磨轮实际尺寸变化函数,以单个磨轮为单位,得到变化函数库;利用基础加工轨迹进行数控加工,选择若干个加工次数节点,采集磨轮实际尺寸数据,带入变化函数库中得到与加工次数节点数据拟合的变化函数,对基础加工轨迹进行修正。采用本发明的技术方案,能够对磨轮磨损量产生的精度偏差进行补偿。

主权项:1.一种深矢高非球面光学元件铣磨方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤一,准备加工磨轮,磨轮分别设有移动平台和旋转平台,移动平台用于驱动磨轮在X轴和Y轴上移动,旋转平台用于驱动磨轮改变铣磨角度;步骤二,构建BP神经网络,在光学元件非球面子午截面曲线上进行样本采集,以切线法轨迹成形方法进行分割曲线采集,获取基础加工轨迹,将待插补曲线的切点选取作为采集样本,对BP神经网络进行大量训练优化基础加工轨迹,每次训练均对磨轮表面进行修整对正,测量磨轮实际尺寸;步骤三,收集训练中磨轮实际尺寸变化函数,以单个磨轮为单位,得到若干以加工次数为x轴,磨损量为y轴的变化函数库;步骤四,利用基础加工轨迹进行数控加工,选择若干个加工次数节点,采集磨轮实际尺寸数据,带入变化函数库中得到与加工次数节点数据拟合的变化函数,对基础加工轨迹进行修正,具体为公式: ; ;其中Vx为X轴方向移动速度,Vy为Y轴方向移动速度,(xi,yi)为第i个加工轨迹切点坐标,θ为切点法线与X轴形成的夹角,ω为旋转平台转动角速度,f(n)为变化函数,n为加工次数。

全文数据:

权利要求:

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