申请/专利权人：合肥通用机械研究院有限公司;国机特种设备检验有限公司;合肥通用机械研究院特种设备检验站有限公司

申请日：2024-04-23

公开（公告）日：2024-05-28

公开（公告）号：CN118090786A

主分类号：G01N23/20

分类号：G01N23/20;G01N23/20008

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.06.14#实质审查的生效;2024.05.28#公开

摘要：本发明公开了一种基于XRD的储氢承压设备的氢压影响阈值确定方法，涉及储氢承压设备的承压测定技术领域，本发明通过X射线衍射技术得到衍射晶面间距；采用充氢后与充氢前的衍射晶面间距的变化量与充氢前的衍射晶面间距的比值表征氢致晶格畸变程度，从而明确氢原子对金属材料产生的晶格畸变效应；通过对比材料在常温、特定氢气压力条件下的晶格畸变程度与材料发生氢脆时的晶格畸变程度，并计算二者氢致晶格畸变的比值；绘制比值随充氢压力的变化关系曲线，将曲线突变点对应的充氢压力作为储氢承压设备的氢压影响阈值。本发明能够测试出储氢承压设备在常温高压环境下的氢压影响阈值。

主权项：1.一种基于XRD的储氢承压设备的氢压影响阈值确定方法，其特征在于，包括以下步骤：S1，利用储氢承压设备的所用材料制作n+1个试块，记为A0、A1、A2、...、An；S2，对试块A0的标定点M进行X射线衍射分析，得到试块A0的衍射角为2θ0，并计算得到试块A0的衍射晶面间距d0；S3，对试块A0进行高温气相充氢处理，充氢处理结束后将试块A0冷却至室温，随后对充氢处理后的试块A0的标定点M再次进行相同的X射线衍射分析，得到充氢处理后的试块A0的衍射角为2θ0’，并计算得到充氢处理后的试块A0的衍射晶面间距d0’；S4，计算高温气相充氢条件下试块A0的氢致晶格畸变ε0，计算方式为：ε0=d0’-d0d0；S5，对试块Ai的标定点M进行相同的X射线衍射分析，得到试块Ai的衍射角为2θi，并计算得到试块Ai的衍射晶面间距di；其中，i=1,2,...,n；S6，对试块Ai进行常温高压充氢处理，试块Ai对应的充氢压力为Pi，充氢处理结束后，对充氢处理后的试块Ai的标定点M再次进行相同的X射线衍射分析，得到充氢处理后的试块Ai的衍射角为2θi’，并计算得到充氢处理后的试块Ai的衍射晶面间距di’；S7，计算常温、充氢压力Pi条件下试块Ai的氢致晶格畸变εi，计算方式为：εi=di’-didi；S8，将试块A0在高温气相充氢条件下得到的氢致晶格畸变ε0作为基准值，分别计算试块Ai在常温、充氢压力Pi条件下得到的氢致晶格畸变εi与基准值ε0的比值RHID,i，RHID,i=εiε0；i=1,2,...,n；S9，利用数据Pi,RHID,i绘制比值随充氢压力的变化关系曲线，并将曲线突变点对应的充氢压力作为储氢承压设备的氢压影响阈值。

全文数据：

权利要求：

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