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申请/专利权人：中国空间技术研究院
申请日：2020-12-18
公开（公告）日：2024-05-31
公开（公告）号：CN112541321B
主分类号：G06F30/398
分类号：G06F30/398;G06F119/02
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.05.31#授权;2021.04.09#实质审查的生效;2021.03.23#公开
摘要：本发明实施例公开了一种宇航密封集成电路早期筛查与风险预示方法及装置。所述方法包括：确定宇航密封集成电路的背景信息，依据背景信息对宇航密封集成电路进行物理解剖成多个单元；对解剖后的多个单元进行性能分析；确定宇航密封集成电路的最小独立要素；对各最小独立要素进行分析，并确定第一分析结果；将至少两个最小独立要素进行组合后分析，确定第二分析结果；基于宇航密封集成电路的应用环境，依据第一分析结果和第二分析结果确定宇航密封集成电路的风险等级。本发明能有效规避早期设计问题，在结构可靠性基因层面为器件把好关，可在早期预示现有试验方法无法暴露的问题，提高器件的自身固有可靠性。
主权项：1.一种宇航密封集成电路早期筛查与风险预示方法，其特征在于，所述方法包括：确定宇航密封集成电路的背景信息；依据所述背景信息，对宇航密封集成电路进行物理解剖成多个单元；对解剖后的多个所述单元进行性能分析；确定所述宇航密封集成电路的最小独立要素；对各所述最小独立要素进行分析，并确定第一分析结果；将至少两个所述最小独立要素进行组合后分析，确定第二分析结果；基于所述宇航密封集成电路的应用环境，依据所述第一分析结果和所述第二分析结果确定所述宇航密封集成电路的风险等级。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国空间技术研究院 一种宇航密封集成电路早期筛查与风险预示方法及装置
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