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申请/专利权人：中茵微电子(南京)有限公司
申请日：2024-05-12
公开（公告）日：2024-06-07
公开（公告）号：CN118150990A
主分类号：G01R31/28
分类号：G01R31/28;G01R19/10;G06F30/394
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.07#公开
摘要：本发明提供一种芯片关键节点电压差检查方法及系统，涉及集成电路版图设计优化技术领域，本发明通过对每个信号路径上的每个节点进行数据采集和储存，并根据节点的电压信息来判断对应两个相邻的信号路径是否存在异常，若存在异常则再次判断，同时高亮标记出异常信号路径和异常信号路径内的异常节点，并将异常节点的信息对用户进行依次展示，从而起到方便用户直观观察异常节点信息，精准定位异常点的效果，更加易于后续进行的优化工作。
主权项：1.一种芯片关键节点电压差检查方法，适用于集成电路的版图设计，其特征在于，具体步骤包括：S1：根据用户需求，采集每组信号路径上每个节点所对应的电压信息和版图信息，并将多组电压信息和版图信息进行标定和存储；S2：根据多组电压信息，计算相邻两个信号路径之间的最大电压差，并将最大电压差与安全阈值进行比较，生成与两个信号路径相对应的比较结果；S3：根据生成的比较结果，将信号路径划分为正常组和异常组，并找到异常组中的异常节点；S4：对异常组内的异常信号路径和异常节点进行高可视化处理，并依次将异常节点所对应的电压信息和版图信息对用户进行展示。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中茵微电子(南京)有限公司 一种芯片关键节点电压差检查方法及系统
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