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【发明公布】一种TFT短线检测方法和系统_中导光电设备股份有限公司_202410152827.8 

申请/专利权人:中导光电设备股份有限公司

申请日:2024-02-03

公开(公告)日:2024-06-11

公开(公告)号:CN118169911A

主分类号:G02F1/13

分类号:G02F1/13;G06T7/00;G06T7/194;G06T7/66;G06T7/70

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.06.28#实质审查的生效;2024.06.11#公开

摘要:本发明公开了一种TFT短线检测方法和系统,方法包括以下步骤:计算所有样本图像的灰度变化方向角度图;根据所有样本图像的灰度变化方向角度图,获取有效的坐标矫正区域;根据所有样本图像的灰度变化方向角度图,获取检测区域的角度模板图并创建掩膜图;根据所述有效的坐标矫正区域,使用所述掩膜图计算待检测图的灰度变化方向角度图;根据所述待检测图的灰度变化方向角度图与所述角度模板图的相似度标定异常区域。本发明可以有效的屏蔽到客户不关注的区域,重点检测客户关注区域,大大提高了检测速度;不受打光、产品膜色变化影响,并且适用于所有的此类短线产品。

主权项:1.一种TFT短线检测方法,其特征在于,包括以下步骤:计算所有样本图像的灰度变化方向角度图;根据所有样本图像的灰度变化方向角度图,获取有效的坐标矫正区域;根据所有样本图像的灰度变化方向角度图,获取检测区域的角度模板图并创建掩膜图;根据所述有效的坐标矫正区域,使用所述掩膜图计算待检测图的灰度变化方向角度图;根据所述待检测图的灰度变化方向角度图与所述角度模板图的相似度标定异常区域。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中导光电设备股份有限公司 一种TFT短线检测方法和系统

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