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申请/专利权人：南京航空航天大学
申请日：2021-05-26
公开（公告）日：2024-06-11
公开（公告）号：CN113341412B
主分类号：G01S13/90
分类号：G01S13/90
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.11#授权;2021.09.21#实质审查的生效;2021.09.03#公开
摘要：本发明公开了一种基于改进Sinc插值技术的PFA成像方法，包括以下步骤：获取SAR回波信号，对SAR回波信号进行距离向重采样获得第一处理信号；对第一处理信号进行tanθref‑θ线性化处理，获得第一采样点参数；对第一处理信号进行Keystone变换，获得第二采样点参数；整合所述第一采样点参数和第二采样点参数，获得均匀输入采样点参数；利用加窗Sinc函数对均匀输入采样点参数进行方位向插值处理，获得第二处理信号；对第二处理信号进行两维傅里叶变换，获得成像结果。本发明受原始回波数据变化影响小，极大地降低了采用插值处理实现方位向重采样的误差，并且减少了使用截断Sinc函数导致的吉布斯振铃效应的影响，进而显著提升了PFA的成像质量。
主权项：1.一种基于改进Sinc插值技术的PFA成像方法，其特征在于，包括以下步骤：获取SAR回波信号，对SAR回波信号进行距离向重采样获得第一处理信号；对第一处理信号进行tanθref-θ线性化处理，获得第一采样点参数，其中θ为雷达天线相位中心的瞬时方位角；θref是方位孔径中心时刻的方位角；对第一处理信号进行Keystone变换，获得第二采样点参数；整合所述第一采样点参数和第二采样点参数，获得均匀输入采样点参数；利用加窗Sinc函数对均匀输入采样点参数进行方位向插值处理，获得第二处理信号；对第二处理信号进行两维傅里叶变换，获得成像结果；利用加窗Sinc函数对均匀输入采样点参数进行方位向插值处理，获得第二处理信号的具体过程为：采用Hamming窗对Sinc函数进行加权处理，然后采用加窗Sinc函数对均匀输入采样点参数进行方位向插值处理，即将均匀输入采样点参数代入重建方程进行运算得到第二处理信号，所述重建方程的表达式为：fx＝∑ifdi·sincx-i·whx-i8其中，fdi为采样信号；i为输入采样点参数的取值；fx为重建信号；x为输出采样点参数；whx-i为窗函数；sincx-i为sinc函数。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 南京航空航天大学 一种基于改进Sinc插值技术的PFA成像方法
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