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申请/专利权人：北京理工大学
申请日：2023-11-27
公开（公告）日：2024-06-14
公开（公告）号：CN118190149A
主分类号：G01J1/04
分类号：G01J1/04;G01J1/42;G06N3/0464;G06N3/09
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.07.02#实质审查的生效;2024.06.14#公开
摘要：本发明公开了一种基于超表面的光束总角动量智能测量方法与系统。将待测光束沿光轴方向入射，经过本发明设计的TAM谱特征提取超表面衍射后，采用面阵探测器接收衍射光场强度分布，经数据传输部输入主机，经过本发明搭建并训练好的卷积神经网络分析后，即可得到待测光束的总角动量谱。本发明方法系统结构简单，易于操作，仅需使用面阵探测器采集衍射光斑即可，其余工作都由主机完成。本发明方法实现了对光束总角动量谱的精确测量，且操作简单，精度较高，有效支撑未来基于光束角动量的前沿应用。
主权项：1.一种光束总角动量特征提取超表面，其特征在于，1天线旋转角分布函数θx,y为： 其中，a、b、c是控制超表面天线排列方式的参数，决定了硅天线的旋转角随空间的周期变化情况，其中，参数a、c决定了通过总角动量特征提取超表面衍射后正交自旋角动量分量相互分离的夹角；2该光束总角动量特征提取超表面可将待测光束衍射成与其总角动量谱一一对应的类厄米-高斯的强度分布,进而实现对待测光束的总角动量特征提取；3该光束总角动量特征提取超表面的硅天线是实现该超表面的对待测光束总角动量特征提取功能的最小单元，它是一种方形柱状天线，天线的长、宽、高分别为500nm、240nm、1020nm，天线的排列周期为650nm，单个天线对1300nm～1700nm波段内的垂直入射光表现出明显的各向异性，可以实现与半波片相同的功能，可使入射光的y轴线偏分量相对x轴线偏分量延迟π相位，从而将入射的正交自旋角动量分量相互转化，并对这两个自旋角动量分量分别引入相反的附加相位，且附加相位的绝对值为硅天线旋转角的两倍2θx,y。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京理工大学 一种基于超表面的光束总角动量谱智能测量方法与系统
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