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【发明公布】测量断面温度和辐射特性参数分布的方法和装置_华北电力大学_202410289209.8 

申请/专利权人:华北电力大学

申请日:2024-03-13

公开(公告)日:2024-06-18

公开(公告)号:CN118209326A

主分类号:G01M15/14

分类号:G01M15/14;G06F17/16;G01D21/02

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.18#公开

摘要:本发明提供一种测量断面温度和辐射特性参数分布的方法和装置,该方法包括针对断面每一单元进行以下步骤计算,以得到断面温度和辐射特性参数分布:根据模拟断面温度和模拟辐射特性参数,基于辐射强度模型和图像温度模型,确定输入辐射强度和输入图像温度;设置初始断面温度和初始辐射特性参数,确定辐射强度模型和图像温度模型中的系数矩阵;根据图像温度模型中的系数矩阵,确定输出断面温度;根据辐射强度模型中的系数矩阵,确定输出辐射强度;迭代更新辐射特性参数,对比输出辐射强度和输入辐射强度,直到满足迭代终止条件时停止迭代,确定最终对应的辐射特性参数和输出断面温度。本发明能够可靠地给出断面温度和辐射特性参数分布。

主权项:1.一种测量断面温度和辐射特性参数分布的方法,其特征在于,该方法包括针对断面每一单元进行以下步骤计算,以得到断面温度和辐射特性参数分布:根据模拟断面温度和模拟辐射特性参数,基于辐射强度模型和图像温度模型,确定输入辐射强度和输入图像温度;设置初始断面温度和初始辐射特性参数,根据所述输入辐射强度和所述输入图像温度,基于所述辐射强度模型和所述图像温度模型,确定所述辐射强度模型和所述图像温度模型中的系数矩阵;根据所述图像温度模型中的系数矩阵以及所述输入图像温度,确定输出断面温度;根据所述辐射强度模型中的系数矩阵以及所述输出断面温度,确定输出辐射强度;通过辐射特性参数迭代模型迭代更新辐射特性参数,以更新所述图像温度模型的系数矩阵和所述辐射强度模型的系数矩阵,对比所述输出辐射强度和所述输入辐射强度,直到满足迭代终止条件时停止迭代,确定最终对应的辐射特性参数和输出断面温度。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 华北电力大学 测量断面温度和辐射特性参数分布的方法和装置

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