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【发明公布】优选区域的高斯基双边指数函数逼近的精细配准方法及设备_西安电子科技大学_202410202081.7 

申请/专利权人:西安电子科技大学

申请日:2024-02-23

公开(公告)日:2024-06-18

公开(公告)号:CN118212279A

主分类号:G06T7/35

分类号:G06T7/35;G06T7/37;G06T7/33;G06T7/45

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.18#公开

摘要:本发明公开了一种优选区域的高斯基双边指数函数逼近的精细配准方法及设备,方法包括:获取待配准复图像和参考复图像;根据待配准复图像或参考复图像的信噪比和纹理特征,分别从待配准复图像和参考复图像中选取高信噪比和纹理特征丰富的两个同为幅度图像的区域图像;基于这两个区域图像,利用对数高斯函数拟合的配准方法,对待配准复图像粗配准,得到粗配准图像;利用参考复图像与粗配准图像间的地形干涉相位对粗配准图像补偿得到补偿图像;从补偿图像和参考复图像中选择高相干性的两个同为复图像的区域图像,基于这两个区域图像,利用高斯基双边指数函数逼近的方法,对粗配准图像进行精配准,得到精配准后的图像。本发明能够提升图像配准精度。

主权项:1.一种优选区域的高斯基双边指数函数逼近的精细配准方法,其特征在于,包括:分别获取待配准复图像和参考复图像;根据所述待配准复图像或所述参考复图像的信噪比和纹理特征,分别从所述待配准复图像和所述参考复图像中选取高信噪比和纹理特征丰富的第一区域图像和第二区域图像;所述第一区域图像和所述第二区域图像所处的位置相同;所述第一区域图像和所述第二区域图像均为幅度图像;基于所述第一区域图像和所述第二区域图像,利用对数高斯函数拟合的配准方法,对所述待配准复图像进行粗配准,得到粗配准图像;利用所述参考复图像与所述粗配准图像之间的地形干涉相位,对所述粗配准图像进行补偿得到补偿图像;根据所述补偿图像和所述参考复图像的相干性,分别从所述补偿图像和所述参考复图像中选取高相干性的第三区域图像和第四区域图像;所述第三区域图像和所述第四区域图像均为复图像;基于所述第三区域图像和所述第四区域图像,利用高斯基双边指数函数逼近的方法,对所述粗配准图像进行精配准,得到精配准后的图像。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 西安电子科技大学 优选区域的高斯基双边指数函数逼近的精细配准方法及设备

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