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申请/专利权人：约翰内斯堡威特沃特斯兰德大学
摘要：本发明涉及用于测量物体的光学特性、特别是用于测量物体的双折射的方法和系统。该方法包括：将均匀偏振的测量光束引导到物体上；利用全息图使测量光束的偏振态自动旋转；针对测量光束的每个偏振态，检测测量光束不与物体相互作用和与物体相互作用之后的偏振性质；以及使用针对每个偏振态检测到的测量光束不与物体相互作用和与物体相互作用之后的偏振性质来确定物体的双折射的测量结果。
主权项：1.一种用于测量物体的光学特性的方法，其特征在于，所述方法包括：将均匀偏振的测量光束引导到物体上；使用全息图使测量光束的偏振态旋转；针对测量光束的每个偏振态，检测测量光束不与物体相互作用和与物体相互作用之后的偏振性质；以及使用针对每个偏振态检测到的测量光束不与物体相互作用和与物体相互作用之后的偏振性质来确定物体的至少一个光学特性的测量结果。
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权利要求：
百度查询： 约翰内斯堡威特沃特斯兰德大学 用于测量物体的光学特性的方法和系统
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