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申请/专利权人：上海艾为电子技术股份有限公司
申请日：2022-12-20
公开（公告）日：2024-06-21
公开（公告）号：CN118226357A
主分类号：G01R35/00
分类号：G01R35/00
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.21#公开
摘要：本申请涉及传感器检测技术领域，公开了一种基线校准方法、检测电路及电子设备，方法包括：获取电子设备传感器的初始基线值，检测到电子设备在预设时间范围内状态模式为待机状态，控制电子设备从第一模式切换至第二模式对初始基线值进行校准，第一模式的第一校准周期小于第二模式的第二校准周期。本申请在确定初始基线值后，通过检测电子设备的稳定状态确定对应的校准模式，如在电子设备处于稳定状态时，采用慢速校准，在电子设备处于不稳定状态时，采用快速校准，且在电子设备采用快速或慢速校准过程中，基于电子设备状态的检测，如稳定或不稳定状态，实现对校准模式的自由切换，进而在降低基线值校准频率和功耗的同时，确保基线校准的准确性。
主权项：1.一种基线校准方法，应用于电子设备，其特征在于，包括：获取所述电子设备的第一基线值，其中，所述第一基线值为所述电子设备的传感器的基线值；对所述电子设备的状态模式进行检测；对应于所述检测结果满足第一条件时，控制所述电子设备从第一模式切换至第二模式对所述第一基线值进行校准；其中，所述第一模式的第一校准周期小于所述第二模式的第二校准周期，所述第一条件用于表示在预设时间范围内所述状态模式为待机状态。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海艾为电子技术股份有限公司 基线校准方法、检测电路及电子设备
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