申请/专利权人:联华电子股份有限公司
申请日:2022-12-21
公开(公告)日:2024-06-21
公开(公告)号:CN118231374A
主分类号:H01L23/522
分类号:H01L23/522;H01L21/768;H10N97/00
优先权:
专利状态码:在审-公开
法律状态:2024.06.21#公开
摘要:本发明公开一种金属‑绝缘层‑金属电容结构及其制作方法,其中金属‑绝缘层‑金属电容结构包含多层金属层间介电层,一沟槽埋入于多层金属层间介电层,一电容设置在沟槽中,其中电容包含一第一电极层、一电容介电层和一第二电极层,第一电极层、电容介电层和第二电极层填入并环绕沟槽,其中电容介电层位于第一电极层和第二电极层之间,一氧化硅衬层环绕沟槽侧壁并且接触第一电极层。
主权项:1.一种金属-绝缘层-金属电容结构,包含:多层金属层间介电层inter-metaldielectric;沟槽,埋入于该多层金属层间介电层;电容,设置在该沟槽中,其中该电容包含:第一电极层、电容介电层和第二电极层,该第一电极层、该电容介电层和该第二电极层填入并环绕该沟槽,其中该电容介电层位于该第一电极层和该第二电极层之间。
全文数据:
权利要求:
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