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申请/专利权人：电子科技大学
申请日：2024-02-05
公开（公告）日：2024-06-21
公开（公告）号：CN118225383A
主分类号：G01M11/00
分类号：G01M11/00;G01M11/02;G01N21/01;G01N21/49;G01N21/55;G01B11/00;G01N21/47
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.21#公开
摘要：本发明公开了一种光腔衰荡测量高反光学元件角分辨散射的优化探测方法，先测量初始腔的衰荡信号，按单指数拟合得到初始腔的衰荡时间；然后加入待测高反光学元件形成测试腔，分别测量从输出腔镜透射的和待测光学元件散射的衰荡信号，按单指数拟合得到相应衰荡时间和信号幅值；通过信号幅值比进行计算，进而得到待测高反光学元件的散射值；通过改进探测模块设计减小对探测激光束的遮挡，实现更宽的散射角测量范围，并实现不同收集立体角的散射分布测量，更准确地测量高反光学元件角分辨散射。
主权项：1.一种光腔衰荡测量高反光学元件角分辨散射的优化探测方法，其特征在于：先测量初始腔的衰荡信号，按单指数拟合得到初始腔的衰荡时间τ0；然后加入待测高反光学元件形成测试腔，分别测量从输出腔镜透射的和从待测光学元件散射的衰荡信号，按单指数拟合得到相应衰荡时间和信号幅值A1、A2；通过信号幅值比进行计算，进而得到高反光学元件的散射值S；在角分辨散射测量中改进探测模块设计，减小对探测激光束的遮挡，按照预先设定进行扫描，通过位移台带动探测器实现更宽的角分辨散射测量；通过改变探测器前光阑大小，实现不同收集立体角的角分辨散射分布测量。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 电子科技大学 一种光腔衰荡测量高反光学元件角分辨散射的优化探测方法
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