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【发明授权】一种激光式沉渣厚度测量方法及系统_中煤江南建设发展集团有限公司_202410269078.7 

申请/专利权人:中煤江南建设发展集团有限公司

申请日:2024-03-11

公开(公告)日:2024-06-21

公开(公告)号:CN117968543B

主分类号:G01B11/06

分类号:G01B11/06;E02D33/00;E02D5/34;G01N1/10;G01N21/59

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.06.21#授权;2024.05.21#实质审查的生效;2024.05.03#公开

摘要:本发明属于数据测量、地质工程技术领域,提出了一种激光式沉渣厚度测量方法及系统,具体为:首先布置激光式沉渣厚度测量场景,场景中包括激光扫描仪;接着从激光式沉渣厚度测量场景获得透浊征组;其次根据透浊征组计算获得泥浆偏析度;最后利用泥浆偏析度对激光扫描仪测量数据进行预警;泥浆偏析度是根据不同沉渣样本的透浊征组进行的量化计算,有效量化了因化学反应或者沉降现象导致沉渣样本浊度和透明度产生的变化和钻孔底部泥浆沉渣的位置分布之间的关联性,提高了泥浆偏析度量化的稳定性和合理性,对实际工程场景中提高沉渣厚度测量的精确度、加强钻孔质量、提升工程施工效率以及保证工程施工安全性起到重要作用。

主权项:1.一种激光式沉渣厚度测量方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:S100,布置激光式沉渣厚度测量场景,场景中包括激光扫描仪;S200,从激光式沉渣厚度测量场景获得透浊征组;S300,根据透浊征组计算获得泥浆偏析度;S400,利用泥浆偏析度对激光扫描仪测量数据进行预警;其中在步骤S300中,根据透浊征组计算获得泥浆偏析度的方法是:设定一个时间段作为全析区间SWDS,设其取值范围为SWDS∈[3,7]分钟;把一个透浊征组下的透性测值与浊度距离的比值记为对应测次的透浊量,将SWDS时间段内各个测次下的透浊量构成序列记作透浊序列DTLs,若一个元素为透浊序列的极大值则把该元素对应测次记为高浊型点,若一个元素为透浊序列的极小值则把该元素对应测次记为低浊型点;将任一测次逆时间搜索获得的首个高浊型点和低浊型点分别作为该测次的高浊上溯点和低浊上溯点;把透浊序列中各高浊型点下透浊量的平均值与各低浊型点下透浊量的平均值作差,将所得差值与该序列的偏态系数的乘积记为浊偏量TbvD,以j1作为测次的序号,根据高浊型点和低浊型点计算获得透浊序列中第j1个测次的浆浊态征量Tcsj1:Tcsj1=expHtUnsj1-DTLsj1expDTLsj1-LtUnsj1;其中exp代表以e为底的指数函数,Hat和LAt分别代表高浊型点和低浊型点的透浊量,DTLsj1代表透浊序列中第j1个元素,HtUnsj1和LtUnsj1分别代表第j1个测次的高浊上溯点和低浊上溯点;将各个测次的浆浊态征量构建一个序列记为浆浊态序列TcsL,把该序列各元素的调和平均值记为浊征水平TeV,将浆浊态序列中大于等于浊征水平的元素写入一个序列记作高偏浊征序列SatL,根据透浊序列、浆浊态序列和高偏浊征序列计算当前测次的子泥浆偏析度sMaL,其计算方法为: ;其中,j2为累加变量,DTLspr代表当前测次的透浊量,TcsLj2代表浆浊态序列中第j2个元素所属测次的浆浊态征量,SatLj2代表高偏浊征序列中第j2个元素,nst代表高偏浊征序列中元素的数量,ds为极差函数。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中煤江南建设发展集团有限公司 一种激光式沉渣厚度测量方法及系统

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